二维过渡金属碳化物(MXenes)引起了研究界的极大兴趣,因为他是较新发现的具有独特电子和光学特性的一大类材料。对于MXene器件的制造和性能,了解MXene与各种基材之间的粘附力至关重要。本文报道AFM测量结果的两个MXenes(Ti
3C
2T
x和Ti
2CT
x)与SiO
2涂层的硅球形尖端的附着力。应用Maugis-Dugdale理论,同时考虑了表面粗糙度,将AFM测得的粘附力转换为粘附能。将获得的粘附能与单层、双层和三层石墨烯以及SiO
2基底的粘附能进行比较。对于较厚的Ti
3C
2T
x和较薄的Ti
2CT
x,MXene的平均粘合能分别为0.90±0.03 J m
-2和0.40±0.02 J m
-2,其大小与石墨烯和二氧化硅尖端之间的数量级相同。
Figure 1. a. AFM压痕实验的示意图;b. AFM图像和表面轮廓
Figure 2. 不同厚度Ti
3C
2T
x和Ti
2CT
x膜的AFM线扫描(a,b)和相应的RMS值(c,d)
Figure 3. 力与位移的关系图:a. 5个单层Ti
3C
2T
x样品的进近和退回,以及卡通图;不同样品的b. 进近和c. 退回
Figure 4. 计算的粘附能的直方图:(a)SiO
2/SiO
2、(b)单层石墨烯/SiO
2、(c)双层石墨烯/SiO
2、(d)三层石墨烯/SiO
2、(e)1-单层Ti
3C
2T
x/SiO
2和f1-单层Ti
2CT
x/SiO
2
Figure 5. (a)所有测量样品的粘合力;(b)带误差条的平均粘附能
相关研究成果于2019年由密苏里科技大学Chenglin Wu课题组,发表在NATURE COMMUNICATIONS(https://doi.org/10.1038/s41467-019-10982-8)上。原文:Adhesion of two-dimensional titanium carbides (MXenes) and graphene to silicon。