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瑞士苏黎世联邦理工大学Thomas Ihn课题组--石墨烯的电子厚度
       当二维晶体在原子上接近时,它们的有限厚度就变得重要了。使用传输测量,我们研究了两个石墨烯层(夹角为θ= 22°)之间的静电特性,由于这两层的K点和K'点之间的动量不匹配,从而使这些层出现解耦。我们观察到随着层间能量差的增加,两层零密度线出现分裂。这种分裂是由单层量子电容与层间电容Cm的比值给出的,因此适合提取Cm。我们通过考虑每个石墨烯层的有限介电厚度dg来解释Cm的较大观测值,并确定dg≈2.6Å。在第二个实验中,我们使用Fabry-Pérot谐振器绘制了整个密度范围。我们可以精确测量出每一层中的费米波长λ,表明这些层是解耦的。本文研究结果是通过严格的计算得到的。
  
Fig. 1. 实验设计。
 
 
Fig. 2. 零密度线。
 
 
Fig. 3. Fabry-Pérot干涉图样。
 
 
Fig. 4. 模拟。
 
       相关研究成果于2020年由瑞士苏黎世联邦理工大学Thomas Ihn课题组,发表在Science Advances(DOI: 10.1126/sciadv.aay8409)上。原文:The electronic thickness of graphene。

摘自《石墨烯杂志》公众号:

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