全部新闻 公司新闻 产品新闻 资料下载 行业新闻
范德比尔特大学Piran R. Kidambi课题组--采用原子薄层化学气相沉积石墨烯克服质子交换燃料电池膜电导与交叉平衡
渗透-选择性权衡是聚合物膜固有的。在燃料电池中,较薄的质子交换膜(PEM)可以实现更高的质子电导和更高的功率密度,同时具有更低的面积比电阻(ASR)、更小的欧姆损耗和更低的离聚物成本。然而,随着厚度的减小,有害物种交叉的性能和长期效率增加。在这里,我们表明,将通过可伸缩化学气相沉积(CVD)和可调缺陷密度合成的原子薄单层石墨烯并入PEM(Nafion,∼5–25μm厚)可允许减少H2交叉(∼34–78%的Nafion具有类似厚度),同时保持足够的应用面积质子电导(>4 S cm–2)。与以往使用>50μm对称Nafion三明治结构的工作相比,本研究阐明了石墨烯缺陷密度和Nafion质子传输阻力对Nafion |石墨烯复合膜性能的影响,并发现了高质量的低缺陷密度CVD石墨烯(G)负载于Nafion 211(∼25μm);i、 例如,N211 | G具有较高的面积质子电导(∼6.1 S cm–2)和最低的H2交叉(∼0.7 mA cm–2)。全功能厘米级N211 | G燃料电池膜在室温和标准操作条件下(80°C,∼150–250 kPa-abs)表现出与最先进的Nafion N211相当的性能,H2/空气(功率密度∼0.57–0.63 W cm–2)和H2/O2进料(功率密度∼1.4–1.62 W cm–2)显著减少H2交叉(∼53–57%)。
 
 

图1. 石墨烯与Nafion 211和PTFE增强Nafion薄膜的界面连接。(A) 石墨烯转移过程示意图。将薄的Nafion层(∼700 nm厚)旋涂到铜箔上的CVD石墨烯上,蚀刻Cu,并将Nafion–石墨烯堆栈舀到所需的Nafion载体上(N211,∼25μm厚;N10,∼10μm厚;N5,∼5μm厚)。(B) 转移到Nafion 211的厘米级石墨烯的光学图像(黑线是指示石墨烯边缘的眼睛引导线)。(C) 铜箔上石墨烯上自旋包覆Nafion层的SEM横截面图像(白色虚线只是一个视觉指南)。(D) 旋转包覆Nafion薄膜上石墨烯的SEM图像显示了CVD石墨烯的褶皱和较小的双层斑块特征。石墨烯无破裂或大/宏观损伤表明转移质量高。(E) 在300 nm SiO2/Si晶片(橙色)上转移的石墨烯的拉曼光谱显示特征2D(∼2700 cm–1)和G(∼1600 cm–1)峰,并且没有D(∼1350 cm–1)峰,表明合成的CVD石墨烯质量高。在拉曼光谱中观察到的石墨烯在自旋包覆Nafion(紫色)上的G和2D峰与没有峰的对照自旋包覆Nafion(蓝色)相比表明转移成功。自旋包覆Nafion上石墨烯的G峰和2D峰向更高波数的移动可能源于石墨烯晶格的掺杂和/或应变。
 
 

图2. 在定制的电池中,室温下通过与不同厚度Nafion(N5,5μm;N10,10μm;N211,25μm)连接的CVD石墨烯进行传输。(A) 质子传输的特点是向膜的任一侧提供湿化H2(见插图;有效面积∼0.32 cm2),并测量N5(N5 | G)、N10(N10 | G)和N211(N211 | G)上石墨烯(G)和N10(N10 | G | N10)上快速石墨烯(FG)的施加电势下的电流。(B) Nafion |石墨烯复合膜(填充棒)和相应对照(未填充棒,A中未显示I−V曲线)的面积电导从面板A(I–V曲线斜率的倒数)中提取。误差条表示一个标准偏差。(C) 石墨烯膜的H2交叉曲线和在一侧湿化H2和另一侧湿化N2下测量的相应对照。(67)(D)从400 mV时面板C交叉曲线中提取的H2交叉电流密度(根据DOE标准)。顶部带有数字的向下箭头表示添加石墨烯后H2交叉水平与相应对照组相比减少的百分比。(E) 石墨烯(G)畴在收敛前的SEM图像显示,通过控制生长参数获得了方形石墨烯畴。(4) (F)电化学腐蚀试验后铜箔上连续CVD石墨烯薄膜的SEM图像,腐蚀坑在石墨烯缺陷下方的Cu中形成。这些蚀刻坑以明亮的白色斑点(用黄色箭头表示)可见,蚀刻坑的百分比面积用黄色文字表示(∼2.9%)。(G) 扫描电子显微镜(SEM)图像显示,石墨烯畴的树枝状边缘通过快速生长(FG)获得,随着CH4含量的增加,晶格上固有缺陷的数量增加。(4) (H)电化学蚀刻试验后FG的SEM图像显示蚀刻坑面积百分比较高(∼10.9%),与N10 | FG比N10 | G具有更高的质子电导和更高的H2交叉。所有实验均使用H2和/或N2向任一侧等流的环境压力和温度。
 
 
 
图3. 石墨烯与不同厚度Nafion界面的电阻模型。(A) 在Nafion上有一层石墨烯的膜的结构,在Nafion载体上的石墨烯层中显示出较大的撕裂和较小的缺陷。(B)单层和(C)双层Nafion界面石墨烯的电阻网络模型。单个撕裂的电阻(RTAS是接近撕裂的电阻,RTP是穿过撕裂的电阻,RTSN是从撕裂中扩散的电阻,RTCN是在Nafion内传输的电阻)和单个缺陷的电阻(RDAS是接近缺陷的电阻,RDP是穿过缺陷的电阻,RDAN是从缺陷中扩散的电阻,RDCN是在Nafion内传输的电阻)显示出来,尽管其中许多电阻是并行发生的。(D) 对不同Nafion层厚度的铺展/收缩阻力效应的说明,表明与撕裂间距相比,薄膜的有效电导面积更小。(E) 模型(带)的面积电导和(F)电导比与实验测量值(符号,填充石墨烯,空白对照,在面板E中)。阴影带显示撕裂的部分区域范围为3.5%至14%。N211 | G膜的电导测量值对应于高于N10 | G和N10 | G | N10膜的计算撕裂分数。非增强(N211)和增强(N10)Nafion载体之间相互作用的差异会影响撕裂的形成并影响质子电导。
 
 

图4. N211和N211 | G膜作为质子交换膜在定制电池中的室温性能。(A) 电池几何结构示意图(有效面积~0.32 cm2)和带有Pt/C布电极的MEA的光学图像(负载0.2 mg Pt/cm2)。电池在室温和大气压下运行,40 sccm湿化H2供应至阳极,120 sccm湿化空气供应至阴极。(B) N211控制膜在磨合过程前后的极化曲线和(C)功率密度曲线表明性能有所改善。(D) 当石墨烯的取向接近阳极(H2,绿色曲线)或阴极(空气,蓝色曲线)时,N211 | G膜的极化曲线。有关石墨烯膜相对于输入气体的方向,请参见插图示意图。当膜取向改变时,只观察到边缘差异。(E) 两个单独的N211控制膜(空的红色和绿色圆圈)和N211 | G膜(填充的绿色圆圈)的极化曲线和(F)功率密度曲线。同样,这些膜的H2交叉测量见图2C。
 
 

图5. N211 | G膜在80°C和不同压力(150和250 kPa abs)下在H2/空气和H2/O2燃料电池中运行的性能。(A) N211 | G样品在涂上催化剂墨水之前的图像,石墨烯角用红线表示。N211和N211 | G膜的有效面积(由Kapton窗口定义)为∼1 cm2。在80°C和100%相对湿度下(B)150 kPa abs和(C)250 kPa-abs与H2/空气(菱形)和H2/O2(方形)的极化曲线。在大多数条件下,N211和N211 | G膜的性能相似,N211 | G膜在较高的O2压力下表现出一定的偏差。(D) N211(紫色,空符号)和N211 | G(红色,填充符号)膜的功率密度曲线,在150 kPa-abs(填充符号,虚线)和250 kPa-abs(空符号,实线)下具有H2/空气(菱形)和H2/O2(方形)几何结构。(E) N211控制膜在150 kPa-abs(紫色虚线)和250 kPa-abs(紫色实线)下的交叉曲线,以及N211 | G膜在150 kPa-abs(红色虚线)和250 kPa-abs(红色实线)下的交叉曲线。(F) 从面板E中提取0.4 V下的H2渡越电流密度,证明在150和250 kPa-abs下,添加石墨烯层后H2渡越电流密度分别减少∼57%和53%。
 
        相关研究成果由范德比尔特大学Piran R. Kidambi课题组2025年发表在Nano Letters (链接:https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c05725)上。原文:Overcoming the Conductance versus Crossover Trade-off in State-of-the-Art Proton Exchange Fuel-Cell Membranes by Incorporating Atomically Thin Chemical Vapor Deposition Graphene

转自《石墨烯研究》公众号


您的称呼 :
联系电话 :
您的邮箱 :
咨询内容 :
 
石墨烯系列产品 石墨烯薄膜 石墨类产品 分子筛类产品 碳纳米管和其他纳米管系列 活性炭及介孔碳系列产品 吉仓代理进口产品/国产产品 包装盒类 改性高分子类及其导电添加剂 纳米颗粒/微米颗粒 富勒烯类产品 化学试剂及生物试剂类 MXenes材料 量子点 纳米化合物及稀土氧化物 石墨烯设备及其材料 锂电池导电剂类 外接修饰分子偶联服务 委托开发服务 微电子产品 石墨烯及纳米材料检测业务 石墨烯检测设备 纳米线类/纳米棒类 实验室耗材类 钙钛矿材料(OLED) 导热硅胶片
公司新闻 产品新闻 行业新闻 资料下载